光学膜厚监控仪

HOM2 Series

高精度光学膜厚监控仪

是用于镀制增透膜及各种光学滤光片的真空镀膜系统的膜厚控制。

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高稳定性光纤光学系统和超低噪音电路设计，实现+0.001%超低噪音

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测光方式对应透射、反射可选

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运用先进的成膜计算控制技术,光透过率的极值监控能力可达+0.05%

规格

测定区分	反射式可视域膜厚计	透过式可视域膜厚计	反射式近赤外域膜厚计	透过式近赤外域膜厚计
型号	HOM2-R-VIS350	HOM2-T-VIS350	HOM2-R-IR900	HOM2-T-IR900
波长带域	350nm ～ 1100nm		900nm ～ 2400nm
光源	卤素灯		卤素灯
电源	AC100V±10%, 50/60Hz

　

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