特殊仕様光学薄膜形成装置

OTFC-IR

OTFC-IR は、赤外線フィルタ成膜用に最適に設計されています。
波長1700 ～ 5500nm で光学膜厚を監視・制御し成膜することが可能です。
特長
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光学膜厚計　波長範囲1700 ～ 5500nm　波長分解能3 ～ 50nm 可変
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光学膜厚計　赤外波長での高い光量安定性± 0.05％以下を実現
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最適装置設計により、高性能、高品質、高再現性の赤外線フィルタ成膜を実現

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