特殊仕様光学薄膜形成装置

OTFC-IR

OTFC-IR は、赤外線フィルタ成膜用に最適に設計されています。
波長1700 ~ 5500nm で光学膜厚を監視・制御し成膜することが可能です。
特長
光学膜厚計 波長範囲1700 ~ 5500nm 波長分解能3 ~ 50nm 可変
光学膜厚計 赤外波長での高い光量安定性± 0.05%以下を実現
最適装置設計により、高性能、高品質、高再現性の赤外線フィルタ成膜を実現